原位SEM力學樣品臺通過使用力學傳感器中的靜電施以載荷，用微壓頭將載荷施加到納米材料上，同時通過電容記錄位移，可以實現如壓縮、彎曲、疲勞、納米壓痕和納米劃痕等測試。根據所得的力-變形（應力-應變）曲線，可以定量確定這些納米結構的材料特性。

原位TEM力學加熱樣品臺上的MEMS（微機電系統）力學芯片可外接力學控制器，在透射電鏡內可動態實時觀察樣品材料微結構的變化。通過實時獲取的載荷、形變等數據，以及透射電子顯微鏡所提供的材料微結構變化數據，實現了定量分析材料的微觀力學性質、相變行為、取向變化、裂紋形成和擴展、材料疲勞和斷裂機制、加速蠕變、分層、形成滑移面以及脫落等現象。該原位力學系統穩定性好，經過科學設計，實現漂移率最小化。

TEM全角度三維重構樣品臺在搭載直徑3 mm銅網的傳統三維重構樣品臺的基礎上延伸，采用彈頭的單軸旋轉方式進行繞樣品臺全角度360°觀察，可以接受棒狀或圓錐形樣品。

TEM三維重構樣品臺通過一系列的不同傾斜角獲得樣品的二維成像信息,并對其進行處理轉化為三維信息，該樣品臺可直接組裝直徑3 mm的銅網樣品，不僅可進行樣品的三維重構，還可用于樣品材料的掃描透射模式下高角環形暗場成像（HAADF-STEM）的高分辨分析。

TEM固體熱-電-光樣品臺在不影響樣品臺雙傾功能的前提條件下，在原位TEM固體加熱加電樣品臺的基礎上設計加載一個加光的功能，以實現加熱加電的同時，可以通過外部光源引入不同波長和強度的光照。